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美國TEKTRONIX/泰克公司新推出基于插補(bǔ)器的高效探測解決方案

來源:北京康高特儀器設(shè)備有限公司 發(fā)布時間:2016-12-27 17:10:50 作者: 瀏覽次數(shù):2002次 分類:行業(yè)動態(tài)

        近日,美國泰克公司*新推出了TEK-PGY-ONFI軟件完善了泰克為其他內(nèi)存技術(shù)提供的全面解決方案,包括eMMC, UFS和DDRA。

        日前為開放的NAND閃存接口(ONFI)標(biāo)準(zhǔn)推出業(yè)內(nèi)*個測試解決方案。ONFI 4.0測試解決方案適用于泰克高性能示波器,包括在ONFI總線上分析DDR2/3模式的軟件,以及基于插補(bǔ)器 (Interposers)的高效探測解決方案。

        ONFI標(biāo)準(zhǔn)由ONFI工作組發(fā)布,旨在簡便于把NAND閃存整合到消費(fèi)電子和計算平臺中。ONFI 4.0規(guī)范引入不斷進(jìn)化的NV-DDR3接口,其工作電壓為VccQ = 1.2V,不僅提高了性能,還改善了功耗,并把NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度擴(kuò)展到667 MT/s和800 MT/s,增加了ZQ校準(zhǔn)功能。

        由于速度提高和電壓下降,處理ONFI總線的設(shè)計人員面臨著諸多挑戰(zhàn),如保證一致性,調(diào)試定時問題,獲得信號。通過TEK-PGY-ONFI軟件,設(shè)計和測試工程師可以測試ONFI接口是否滿足ONFI總線定時參數(shù),并自動測量Command、Address、Data in和Data out業(yè)務(wù)。TEK-PGY-ONFI軟件中的細(xì)節(jié)視圖功能通過進(jìn)行標(biāo)注,把ONFI波形的每個電氣測量指標(biāo)與模擬波形關(guān)聯(lián)起來,幫助用戶調(diào)試定時問題。

        密集封裝和高數(shù)據(jù)速率給NAND閃存器件中的高保真信號接入帶來了挑戰(zhàn)。泰克支持各種不同的機(jī)械外形,包括帶有插口的探頭設(shè)計、直接連接探頭設(shè)計、已獲專利的邊緣探頭設(shè)計,可以滿足異常緊張的機(jī)械要求。其提供了插補(bǔ)器 (Interposers)和探頭S參數(shù)模型,用于建模或生成應(yīng)用到示波器中的反嵌濾波器。

        TEK-PGY-ONFI軟件在帶寬為4GHz -33GHz的泰克MSO/DPO70000系列示波器上運(yùn)行,推薦在測試中使用P7500或P7300系列探頭。有些客戶在進(jìn)行ONFI測試時,可能很難或根本不能接入信號,因此泰克推薦使用Nexus開發(fā)的ONFI 152球形NAND Flash Edge高保真插補(bǔ)器 (Interposers),實現(xiàn)信號接入,同時保持信號完整性。

        “這種ONFI測試解決方案為客戶提供了所需的洞察力,使他們能夠更快、更加滿懷信心地把基于內(nèi)存的產(chǎn)品推向市場?!碧┛丝萍脊靖咝阅苁静ㄆ骺偨?jīng)理Brian Reich說,“與手動測試相比,這一解決方案明顯縮短了一致性測試時間,簡化了調(diào)試工作,*終提升了生產(chǎn)效率?!?/span>

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